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北京時代涂層測厚儀可選附件-探頭F1;N1;F1/90;F10;F400;CN02
簡要描述：涂層測厚儀可選附件-探頭F1;N1;F1/90;F10;F400;CN02
產(chǎn)品型號：F1;N1;F1/90;F10;F400- 品牌：TIME/北京時代
- 更新時間：2024-09-05
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F1;N1;F1/90;F10;F400北京時代涂層測厚儀可選附件-探頭F1;N1;F1/90;F10;F400;CN02的詳細資料：
涂層測厚儀可選附件-探頭
F1探頭
F1探頭是涂層測厚儀磁性法測量的通用標準探頭，測量范圍0-1250um，基本覆蓋大部分涂層厚度范圍，也是TT260涂層測厚儀的標配探頭。
| 測頭型號 | F1 | |
| 工作原理 | 磁感應 | |
| 測量范圍（um） | 0-1250 | |
| 低限分辨力(um) | 0.1 | |
| 示值誤差 | 一點校準(um) | ±[3%H+1] |
| 兩點校準(um) | ±[(1～3)%H+1] | |
| 測量條件 | zui小曲率半徑(mm) | 凸1.5 |
| 基體zui小面積的直徑(mm) | ф7 | |
| zui小臨界厚度(mm) | 0.5 | |
| 探頭尺寸（mm) | ф12X47 | |
N1探頭
N1探頭是渦流法涂層測厚儀測量的通用標準探頭，測量范圍0-1250um，基本覆蓋大部分涂層厚度范圍，也是TT260覆層測厚儀的標配探頭。
| 測頭型號 | N1 | |
| 工作原理 | 電渦流 | |
| 測量范圍（um） | 0-1250(銅上鍍鉻0-40um) | |
| 低限分辨力(um) | 0.1 | |
| 示值誤差 | 一點校準(um) | ±[3%H+1.5] |
| 兩點校準(um) | ±[(1～3)%H+1.5] | |
| 測量條件 | zui小曲率半徑(mm) | 3 |
| 基體zui小面積的直徑(mm) | ф5 | |
| zui小臨界厚度(mm) | 0.3 | |
| 探頭尺寸（mm) | ф15X73 | |
F1/90探頭
TT260覆層測厚儀選配F1/90探頭，主要用于管材內(nèi)壁的涂層厚度測量。它細長的身形可以輕松的深入其它探頭無法到達的細管中。夾層和細縫中的涂層厚度測量也是它的拿手好戲。
| 測頭型號 | F1/90 | |
| 工作原理 | 磁感應 | |
| 測量范圍（um） | 0-1250 | |
| 低限分辨力(um) | 0.1 | |
| 示值誤差 | 一點校準(um) | ±[3%H+1] |
| 兩點校準(um) | ±[(1～3)%H+1] | |
| 測量條件 | zui小曲率半徑(mm) | 平直 |
| 基體zui小面積的直徑(mm) | ф7 | |
| zui小臨界厚度(mm) | 0.5 | |
| 探頭尺寸（mm) | 7.5X11X200 | |
F10探頭
TT260涂鍍層測厚儀選配F10探頭，測量范圍由標配的0-1250um擴展至0-10000um，主要用于大厚度的涂層測量。
選配F10探頭還應增配2000um、4000um、8000um的標準校準片，用于校準儀器。
| 測頭型號 | F10 | |
| 工作原理 | 磁感應 | |
| 測量范圍（um） | 0-10000 | |
| 低限分辨力(um) | 10 | |
| 示值誤差 | 一點校準(um) | ±[3%H+10] |
| 兩點校準(um) | ±[(1～3)%H+10] | |
| 測量條件 | zui小曲率半徑(mm) | 10 |
| 基體zui小面積的直徑(mm) | ф40 | |
| zui小臨界厚度(mm) | 2 | |
| 探頭尺寸（mm) | ф27X47 | |
F400探頭
TT260涂鍍層測厚儀選配F400探頭，主要用于較薄厚度的涂層測量，可獲得更精確的測量結果和更高的重復性，
另外在管材基體直徑較小或者被測區(qū)域接觸面積較小時，F(xiàn)400探頭也是*的選擇。
| 測頭型號 | F400 | |
| 工作原理 | 磁感應 | |
| 測量范圍（um） | 0-400 | |
| 低限分辨力(um) | 0.1 | |
| 示值誤差 | 一點校準(um) | ±[3%H+1] |
| 兩點校準(um) | ±[(1～3)%H+0.7] | |
| 測量條件 | zui小曲率半徑(mm) | 凸 1 |
| 基體zui小面積的直徑(mm) | ф3 | |
| zui小臨界厚度(mm) | 0.2 | |
| 探頭尺寸（mm) | ф12X55 | |
CN02探頭
TT260漆膜測厚儀選配CN02探頭，主要用于測量線路板上的銅箔厚度，檢測范圍在10-200um之間。
| 測頭型號 | CN02 | |
| 工作原理 | 電渦流 | |
| 測量范圍（um） | 10-200 | |
| 低限分辨力(um) | 1 | |
| 示值誤差 | 一點校準(um) | ±[3%H+1] |
| 兩點校準(um) | - | |
| 測量條件 | zui小曲率半徑(mm) | 平直 |
| 基體zui小面積的直徑(mm) | ф7 | |
| zui小臨界厚度(mm) | 無限制 | |
| 探頭尺寸（mm) | ф16X67 | |
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鄭由軍
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