底波衰減

*性能

底波衰減更適合粗晶材料等需要深度補償功能的探傷

自動測量球墨鑄件球化率，聲速測量滿足JB9219標準

粗糙表面耦合劑

內(nèi)置常用鑄造工藝標準

射脈沖能量高/低可調(diào)，與阻尼50/150/400Ω配合，可以獲得*探傷性能…

底波衰減，深度補償

手動/自動測量球化率 國內(nèi)*

通用性能

方波激勵：適用難以穿透復(fù)合材料

國內(nèi)業(yè)界的可調(diào)方波激勵技術(shù)，適用于難以穿透的各種材料?？烧{(diào)節(jié)選項的高性能“方波/脈沖發(fā)生器”，實現(xiàn)與探頭的*匹配。對于聲波衰減較厲害的復(fù)合材料，鑄件，厚板尤其有效，具有的穿透力和信噪比；而對檢測薄工件和復(fù)合材料又有高的分辨率。

窄帶濾波器組（Z）

在常規(guī)寬頻帶濾波基礎(chǔ)上增加了多個常用的窄帶濾波器，信號通過與探頭匹配的窄帶濾波器，可獲得的信噪比，從而的抑制了噪聲。（達到無雜波效果）

國內(nèi)優(yōu)先達到10位高精度AD采樣

超長待機：10/20小時，擺脫充電煩惱

高亮真彩，強光可見，屏幕亮度5級可調(diào)，節(jié)電環(huán)保

工業(yè)級寬溫硬件操作，軍工元器件，極低故障率

鎂鋁合金外殼，堅固耐用，有效防止電磁干擾

功能                                   

U盤存儲，即插即用

USB接口可插入U盤，無需驅(qū)動，支持熱插撥，即插即用。實現(xiàn)探傷報告存儲、拷屏打印。

二維編碼B掃描 直觀顯示缺陷位置

探傷儀常用的二維色彩編碼B掃描功能。B掃描功能圖像式的觀察缺陷模式，能夠產(chǎn)生很好的對比效果，更便于缺陷的分析判斷。通過:灰度/彩色調(diào)色板還可以自動顯示缺陷危害程度，也可實時對比觀測A掃波形和B掃圖像

超大容量數(shù)據(jù)儲存：3200個數(shù)據(jù)組

探傷與高精測厚一體

5條智能DAC曲線，符合JIS和API標準

實用DGS曲線:大平底、平底孔、通孔三種參考類型

操作

常用功能一鍵直達

菜單布局合理

自動校準：聲速、探頭延遲、角度/K值

                球化率測量

                    二維編碼B掃描

      DAC曲線           DGS曲線

   回波編碼（波形方式 VS. 坐標方式）